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발명자 이지형, 김재광, 김동문, 윤태복, 김정훈, 윤광호, 이승훈, 정제희, 김건수, 이동훈 
국가 미국 
일자 2008-11-20 
번호 12/274,376 
관련 과제  
특허구분 출원 

Sequence similarity measuring apparatus and control method thereof

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